전북대학교
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ICP- 기기명
유도결합플라즈마 원자분광광도계(Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer)
- 기기정보
- 모델번호 : ICPS-7500
- 제조회사 : Shimadzu(Japan)
- 구입년도 : 2002
- 용도
약 6500°K의 플라즈마를 통과하는 시료의 여기된 원자(들뜬 상태)가 낮은 에너지준위(바닥상태)로 돌아갈 때 방출되는 복사선의 파장 및 발광강도를 측정하여 시료 중의 원소를 정성 또는 정량 분석하는 장치
T.063.270.3691
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XRD- 기기명
X선회절분석기(X-RAY Diffractometer)
- 기기정보
- 모델번호 : D8 ADVANCE
- 제조회사 : Bruker
- 구입년도 : 2022
- 용도
X-선관에서 발생하는 특성 X-선을 시료에 조사함으로서 발생되는 X-선 회절을 분석하여 시료 속에 존재하는 결정의 종류와 구조 및 결정 간의 거리, 크기 등을 알아 낼 수 있는 장치
T.063.270.2264
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SEM- 기기명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
- 기기정보
- 모델번호 : JSM-5900
- 제조회사 : JEOL(Japan)
- 구입년도 : 1999
- 용도
집·가속된 Electron beam이 Sample의 표면에 주사되면서 Sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Electron)를 이용하여 그 표면을 관찰하는 장치.수분을 포함하지 않은 모든 시편의 표면 형상 분석 및 EDS (Energy Dispersive x-ray spectrometer)를 이용한 성분분석에 사용됨
- 기기명
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SEM- 기기명
고성능주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
- 기기정보
- 모델번호 : SU3900
- 제조회사 : Hitachi
- 구입년도 : 2022
- 용도
집·가속된 Electron beam이 Sample의 표면에 주사되면서 Sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Electron)를 이용하여 그 표면을 관찰하는 장치. BSE(Backscattered Electron) 이미지도 가능함. 수분을 포함하지 않은 모든 시편의 표면 형상 분석 및 EDS (Energy Dispersive x-ray spectrometer)를 이용한 성분분석에 사용됨
- 기기명
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FE-SEM- 기기명
전계방사형주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)
- 기기정보
- 모델번호 : SU-70
- 제조회사 : HITACHI(Japan)
- 구입년도 : 2013
- 용도
집·가속된 Electron beam이 Sample의 표면에 주사되면서 Sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Electron)를 이용하여 그 표면을 관찰하는 장치.수분을 포함하지 않은 모든 시편의 표면 형상 분석 및 EDS (Energy Dispersive x-ray spectrometer)를 이용한 성분분석에 사용됨. EBSD(Electron Backscatter Diffraction)를 이용하여 재료의 방위를 분석하는 구조분석도 가능함.
T.063.270.3692
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ION Sputter- 기기명
이온 코팅기(Ion Sputter)
- 기기정보
- 모델번호 : E-1010
- 제조회사 : Hitachi(Japan)
- 구입년도 : 1994
- 용도
SEM 분석 전 Sample의 표면 코팅을 위한 증착장비 분석 중 열전자에 의한 시편의 손상을 막고 부도체 표면을 도체화 하기 위한 장치
- 기기명
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ION Sputter- 기기명
이온 코팅기(Ion Sputter)
- 기기정보
- 모델번호: E-1045
- 제조회사: HITACHI
- 구입년도: 2013
- 용도
SEM 분석 전 Sample의 표면 코팅을 위한 증착장비로 SEM 분석 중 열전자에 의한 시편의 손상을 막고 부도체의 표면을 도체화하기 위한 장비
- 기기명
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ION Sputter- 기기명
이온 밀링기(Ion Milling System)
- 기기정보
- 모델번호: IM4000
- 제조회사: HITACHI
- 구입년도: 2013
- 용도
전자현미경(SEM) 분석 전 Sample의 미세 영역 관찰을 위해 필요한 전처리 장비로 Ar Ion Beam을 이용하여 Sample의 단면 절단(Cross Section)이나 표면에 조사하여 특정부분을 정밀하게 연마(Flat Milling)할 수 있는 장비
- 기기명
